Descrizione
Micron è alla ricerca di un responsabile della metrologia dei semiconduttori che guidi la ricerca e lo sviluppo, le operazioni e il mantenimento della metrologia CDSEM avanzata, con ulteriore attenzione ad AFM, overlay/registrazione, metrologia a raggi X e tecniche ottiche. Il ruolo sviluppa e qualifica metodi di metrologia CD, promuove il rilevamento in linea, esegue analisi di CD, profilo e rugosità, collabora con i team di progettazione e di processo, genera rapporti di metrologia, confronta le prestazioni degli strumenti e fa da mentore agli ingegneri. I candidati dovrebbero avere esperienza nella metrologia dei semiconduttori, conoscenze di strumentazione e calibrazione, comprensione dei processi dei semiconduttori, competenze digitali e di analisi dei dati e una laurea in ingegneria, fisica o scienza dei materiali; Micron offre inoltre la possibilità di essere presi in considerazione ai candidati con una laurea triennale (BS) e cinque anni di esperienza nel settore dei semiconduttori.
