说明
Micron Technology 正在招聘一名计量应用工程师，负责开发和实施半导体薄膜的计量测量技术，包括光刻套刻、CD-SEM、椭偏测量、散射测量、XRF 和表面轮廓测量。该职位支持特殊工作请求、供应商工具 CIP、NPI 转移、质量指标、计量性能、晶圆厂运营、良率提升以及计量知识标准化。该职位还强调在半导体制造中使用 AI 工具、自动化、数据驱动的洞察和持续改进。
语言
- 工作方式
- 现场办公
- 地点
- 台湾台中
- 级别
- not_specified
- 发表
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